The leading nano metrology tool for failure analysis and large sample research
FA 엔지니어라면 누구나 정확하며 오차가 없는 데이터 값을 얻을 수 있는 장비를 원하실 것입니다. Park Systems의 NX20은 세계에서 가장 정확한 대형 시료용 AFM 이며, 반도체와 하드디스크 산업에서도 가장 정확한 결과 산출을 할 수 있습니다.
More powerful failure analysis solutions
Park Systems의 NX20은 디바이스의 결함을 발견하고 독창적인 결과물을 개발하는 것을 좀더 쉽게 하는 고유의 특징들을 갖추고 있으며, 사용자가 NX20이 제공하는 고해상도 데이터로 프로젝트를 더욱 수월하게 해결 할 수 있게 도와줍니다. 또한 NX 20의 완전 비접촉 모드™ 는 팁을 날카롭고 수명을 길게 유지 시켜주기 때문에 장시간 고해상도 스캔이 가능하며 팁을 교체하는데 드는 시간과 비용을 절약 할 수 있습니다.
Easy to use, even for entry level engineers
Park Systems의 NX20은 다루기 쉬운 디자인 과 자동화 인터페이스를 가지고 있기 때문에 사용자는 장비를 사용하거나 신입 엔지니어를 교육하는데 많은 시간과 에너지를 쓸 필요가 없습니다. 이것은 사용자가 더 큰 문제를 해결하는 것과 고객에게 좀더 정확한 분석 데이타를 제공할 수 있습니다.
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