最も拡張性のあるAFMソリューション
ParkのSPMは、幅広いモードとオプションをサポートします。
今日の研究者は、多様な測定条件とサンプル環境下で広範囲にわたる物理特性を特徴づける必要があります。パーク・システムズは、幅広いSPMモード、最大数のAFMオプション、および高度なサンプル特性評価のために、業界で最高のオプションの互換性とアップグレード性を提供します。![graphene-topography-spm-modes](/images/menu/products/xe7/graphene-topography-spm-modes.jpg)
Park XE15には、最も広範なSPMモードがあります。(*オプションで利用可能)
スタンダードイメージング
化学特性*
力測定*
電気特性*
- コンダクティブAFM(C-AFM)
- IVスペクトロスコピー
- ケルビンプローブフォース顕微鏡(KPFM)
- 走査型キャパシタンス顕微鏡(SCM)
- 走査型拡がり抵抗顕微鏡(SSRM)
- 走査型トンネリング顕微鏡(STM)
- フォトカレントマッピング(PCM)